目的: 比较不同种类计算机辅助设计/辅助制作(computer aided design/manufacturing, CAD/CAM)修复材料抛光后表面粗糙度值(Ra值)与光泽度值的差异, 测定适宜的抛光时间, 为操作者抛光椅旁可切削修复体提供参考。方法: 选择5种不同种类CAD/CAM修复材料长石瓷(vita mark Ⅱ, VM)、弹性瓷(vita enamic, VE)、优韧瓷(lava ulimate, LU)、复合树脂A(shofu block HC, SB)和复合树脂B(brilliant crios, BC), 每种材料制备6个试样, 共30个试样。将试样固定于自制抛光装置, 使用Sof-Lex抛光碟系统中的中碟(medium disk, M碟, 磨粒粒径10~40 μm)、细碟(fine disk, F碟, 磨粒粒径3~9 μm)和超细碟(superfine disk, SF碟, 磨粒粒径1~7 μm)依次对试样进行序列抛光。试样每抛光10 s测量一次Ra值及光泽度值, 数值不再变化时更换下一级抛光碟, 每个抛光碟仅使用一次。更换下一级抛光碟的同时记录试样的Ra值、光泽度值以及抛光时间, 实验完成后用SPSS 24.0软件进行统计学分析。结果: 序列抛光后所有材料Ra值较抛光前显著降低(P < 0.05), 光泽度值显著升高(P < 0.05)。不同材料间的Ra值差异无统计学意义(P>0.05), 而LU的光泽度值[(68.1±4.5) GU]与SB的光泽度值[(68.2±5.8) GU]显著高于VE[(48.1±8.1) GU]与BC[(53.2±5.8) GU], P < 0.05。达到最佳Ra值和光泽度值, VM [40(30, 55) s]所需总抛光时间最短, VE [140(135, 145) s]、LU [130(120, 140) s]、SB [140(130, 150) s]与BC [130(120, 140) s]的抛光时间差异无统计学意义。结论: 所有CAD/CAM修复材料经Sof-Lex抛光碟系统序列抛光后均能显著降低表面粗糙度值和提高光泽度值; 不同材料达到最佳表面粗糙度和光泽度所需的抛光时间不同; 推荐使用Sof-Lex系统抛光时, 对于长石瓷, 仅用M碟抛光40 s即可。对于弹性瓷、优韧瓷、复合树脂A与复合树脂B, 要序列使用M碟、F碟和SF碟抛光, 总体抛光时间约130~140 s。